Microscopia Eletrônica 1

    Sigla: CEM 112

    Total de Créditos: 05

    Caráter da Disciplina: Optativa

    Ementa:

    • Introdução;
    • Microestruturas de interesse em engenharia;
    • Aplicações da Microscopia Eletrônica de Varredura;
    • Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET): Microscópio Eletrônico de Transmissão; MET: Ideia Geral; Partes do MET; Fontes de elétrons (filamentos e canhões); Lentes eletromagnéticas; Sistema de iluminação; Amostra; Aberturas; Formação de imagens: Campo claro, escuro e difração;
    • Microscopia Eletrônica de Varredura: Fontes de elétrons (filamentos e canhões); Lentes eletromagnéticas; Sistema de iluminação; Sistema ótico-eletrônico no MEV; Interação feixe-amostra; Detecção de sinais; Mecanismos de contraste; Resolução; Profundidade de foco e de campo;
    • Microscopia Eletrônica Analítica: Espectro característico de emissão de raios-x: Interação elétron-matéria, Volume de interação; Espectroscopia por dispersão de energia (EDS); Espectroscopia por dispersão de comprimento de onda (WDS); Microanálise quantitativa por raios-x: Princípios e fatores de correção: ZAF e FrZ; Microanálise de elementos leves; Mapeamento por raios-X;
    • Difração em MEV: EBSD (electron back-scattered diffraction);
    • Técnicas de Preparação de Amostras;

    Bibliografia:

    1. GOLDSTEIN J.I.; NEWBURY D. E.; ECHIL P; Joy DC; Romig Jr AD; Lyman CE; Fiori C; Lifshin E. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. New York: Plenum Press; 1992.
    2. KESTENBAC, H.J.; BOTA FILHO W.J. Microscopia eletrônica transmissão e varredura. São Paulo: ABM, 1994.
    3. PINTO, A. L..; Lopes, A. M., In Textura e relações de orientação: deformação plástica, recristalização e crescimento de grão. São Paulo: André P. Tschiptschin Ed., IPEN, 2a ed.,pp. 441-459, 2003.
    4. D.B. Williams, C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, New York, 2009.
    5. L. Remier, Transmission Electron Microscopy, 4th Ed., Springer-Verlag, New York, 1997.
    6. J.W. Edington, Practical Electron Microscopy in Materials Science, N.V. Philips, Eindhoven, 1976.