Técnicas de Caracterização de Materiais Utilizando Radiação Síncrotron

Sigla: CEM 174

Total de Créditos: 05

Caráter da Disciplina: Optativa

Ementa

• Introdução: Utilização da Luz Síncrotron na Ciência dos Materiais;
• Interação de luz síncrotron com a matéria;
• Física da Luz Síncrotron (Brilho, Fluxo, Polarização, etc.);
• Linhas de Luz Síncrotron;
• Difração de raios-X (DRX) em Laboratórios de Luz Síncrotron;
• Técnicas de Espalhamento de raios X: Espalhamento de Raios X a Baixos ângulos (SAXS); Espalhamento de raios X a baixos ângulos em Incidência rasante (GISAXS); Refletividade de raios X (XRR);
• Técnicas de Espectroscopia de raios X: Espectroscopia de foto-emissão (XPS); Espectroscopia de Absorção de Raios X (XANES e EXAFS).

Bibliografia:

1. PHILIP WILLMOTT, An Introduction to Synchrotron Radiation -Techniques and Applications. First edition, 2011 John Wiley and Sons, Ltd.
2. Helmut Clemens; Svea Mayer; Schreyer; Andreas P. Staron, Neutrons and synchrotron radiation in engineering materials science : from fundamentals to applications. First edition, 2017, Wiley-VCH.
3. Scott Calvin, XAFS FOR EVERYONE, Taylor & Francis, First edition, 2013.
4. Grant Bunker, Introduction to XAFS, Cambridge University Press, 2010.
5. Yoshio Waseda, Eiichiro Matsubara, Konzo Shinoda. X-ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved problems. First Edition, 2011, Springer.